1535-nm-Erbiumglas-Laserquellen

Kompakte gepulste optische Energie, bereit zur Integration.

Lumexis entwickelt kompakte gepulste Erbiumglas-Laserquellen für OEM Entfernungsmessung, optische Sensorik, LiDAR und wissenschaftliche Instrumente. Die Serie umfasst 40–500 µJ Pulsenergie bei 1535 nm, mit 3–6 ns Pulsbreite, modellabhängig 1–1000 Hz Wiederholrate, ≤10 oder ≤15 mrad Divergenz, <2 V Versorgungsspannung und Betrieb von −40 bis +65°C.

Die Leistungswerte sind modellspezifisch. Bestätigen Sie die auftragsspezifische technische Spezifikation, Schnittstelle und Integrationszeichnung vor der Designfreigabe.

Lumexis-Erbium-Glas-Laserquellenfamilie in gelber technischer Strichzeichnung
40–500 µJ3–6 ns PulsbreiteAb 9 g bei ausgewählten Modellen
Sechs Lumexis-Erbium-Glas-Laserquellen, angeordnet nach Gehäuse und PulsenergieklasseOEM-EntfernungsmessungLiDAR & FernerkundungOptische SensorikWissenschaftliche Instrumente
WELLENLÄNGE1535 nm

Eine gepulste Er:Glass-Quellenplattform für ausgewählte OEM-Optiksysteme.

PULSENERGIE40–500 µJ

Sechs Quellenmodelle bieten einen definierten Energiebereich für Systemabwägungen.

PULSBREITE3–6 ns

Spezifizierter Kurzpulsausgang über die veröffentlichte Modellserie.

WIEDERHOLRATE1–1000 Hz

Modellabhängig ausgewählt: 1–10 Hz oder 1000 Hz für die 40-µJ-Quelle.

STRAHLDIVERGENZ≤10 / 15 mrad

Modellabhängige Divergenz, abgestimmt auf den optischen Pfad des Hostsystems.

BETRIEBSBEREICH−40 bis +65°C

Veröffentlichter Betriebstemperaturbereich; bestätigen Sie die endgültige Konfiguration.

Komplettes Produktsortiment

Wählen Sie die Pulsenergieklasse, die zum optischen System passt.

Alle veröffentlichten Modelle sind unten aufgeführt. Beginnen Sie mit der erforderlichen Pulsenergie, Wiederholrate, Strahldivergenz und dem verfügbaren Installationsvolumen; überprüfen Sie dann die elektrische Schnittstelle, die mechanische Zeichnung und die Testbedingungen für das vorgesehene System.

Modellvergleich

Vergleichen Sie die veröffentlichten Quellspezifikationen in einer Tabelle.

Die Tabelle ist eine Auswahlhilfe, kein Integrationsfreigabedokument. Schnittstelle, mechanische Hülle und Testbedingungen werden in der modellspezifischen technischen Spezifikation bestätigt.

ModellPulsenergieWiederholungPulsbreiteDivergenzVersorgungBetriebstemperaturGewicht
1535-LXER04040 µJ1000 Hz3–6 ns≤15 mrad<2 V−40 bis +65°C—
1535-LXER100100 µJ1–10 Hz3–6 ns≤10 mrad<2 V−40 bis +65°C9 g
1535-LXER200200 µJ1–10 Hz3–6 ns≤10 mrad<2 V−40 bis +65°C9 g
1535-LXER300300 µJ1–10 Hz3–6 ns≤10 mrad<2 V−40 bis +65°C9 g
1535-LXER400400 µJ1–10 Hz3–6 ns≤15 mrad<2 V−40 bis +65°C11 g
1535-LXER500500 µJ1–10 Hz3–6 ns≤15 mrad<2 V−40 bis +65°C13 g

Spezifikationshinweis: 1535 nm Wellenlänge, Pulsenergie, Wiederholrate, Pulsbreite und Divergenzwerte sind modellspezifische veröffentlichte Werte. “—” bedeutet, dass die öffentlichen Quelldaten keinen Wert auflisten; fordern Sie das entsprechende Datenblatt für das ausgewählte Modell an.

3–6 ns optischer Puls
Pumpe / AnsteuerungEr:Glass-VerstärkungsmediumPassiver Q-SwitchAusgangsöffnung

Grundlagen der Laserquelle

Wie eine Er:Glass-Quelle einen kurzen Puls bildet.

Energie wird im erbiumdotierten Glas-Verstärkungsmedium gespeichert und als kurzer optischer Puls freigesetzt, wenn der passive Q-Switch den Resonatorverlust ändert. Die resultierende Pulsenergie, -breite, Strahldivergenz und Wiederholrate sind voneinander abhängige Designparameter—keine unabhängigen Einstellungen, die isoliert optimiert werden können.

01 / VERSTÄRKUNGSMEDIUM

Er:Glass

Das aktive Glas speichert Pumpleistung und bietet den 1535 nm Laserübergang.

02 / PULSBILDUNG

Passiver Q-Switch

Unterstützt kompakten gepulsten Betrieb ohne extern angesteuerten Q-Switch.

03 / AUSGANGSOPTIK

Strahlsteuerung

Die Ausgangsoptik legt die gelieferte Strahlgeometrie für den Host-Optikpfad fest.

04 / GEHÄUSE

Design-Referenz

Montage-, Stecker- und Öffnungsdetails müssen der Zeichnung des ausgewählten Modells folgen.

Auswahlwissen

Vier Parameter, die bestimmen, ob eine Quelle gut integriert werden kann.

Eine Quelle sollte als Teil des vollständigen optischen und elektrischen Systems bewertet werden. Diese Eingaben helfen, die anfängliche Modellauswahlliste und die technischen Fragen für Mustertests zu definieren.

01 / ENERGIE

Pulsenergie

Pulsenergie legt die optische Energie pro Emission fest. Wählen Sie sie basierend auf der erforderlichen Systemsignalmarge, Empfängerempfindlichkeit, optischen Verlusten und der endgültigen Sicherheitsbewertung.

02 / DIVERGENZ

Strahlfußabdruck

Divergenz steuert, wie schnell sich der Strahl ausbreitet. Ein Host-Expander, eine Öffnung und Ausrichtungstoleranz beeinflussen alle den gelieferten Fußabdruck.

03 / WIEDERHOLUNGSRATE

Messkadenz

Die Wiederholrate muss mit der Erfassungszeit, dem thermischen Budget und der Host-Verarbeitung übereinstimmen. Das 40 µJ-Modell ist bei 1000 Hz spezifiziert; andere aufgeführte Modelle sind 1–10 Hz.

04 / PULSBREITE

Zeitliche Auflösung

Kürzere Pulse können die Time-of-Flight-Auflösung unterstützen, aber die vollständige Systemantwort umfasst auch Detektor-, Elektronik-, Zeit- und Signalverarbeitungsgrenzen.

Zusätzlicher Strahldurchmesser ≈ θ × R

Für kleine Winkel verwenden Sie den Vollwinkel θ in Radiant und die Ausbreitungsdistanz R. Beziehen Sie den anfänglichen Strahldurchmesser der Quelle, Host-Optik und Ausrichtungstoleranz in das detaillierte Modell ein. Bestätigen Sie die Divergenzdefinition in der Spezifikation des ausgewählten Modells.

Anwendungslösungen

1535 nm gepulste Quellen für zivile, industrielle und wissenschaftliche Instrumente.

Die Anwendungseignung hängt von Pulsenergie, Divergenz, Wiederholrate, dem Host-Optikpfad und der Empfängerarchitektur ab. Vor der Designfreigabe wird eine repräsentative Systemtests empfohlen.

Vermessungsinstrument mit gepulster 1535-nm-Quelle für Entfernungsmessung
01 / OEM-ENTFERNUNGSMESSUNG

Entfernungsmessung

Gepulste Quellen-Bausteine für kompakte Entfernungsmessgeräte und integrierte Mess-Subsysteme.

Zivile Luftkartierungsplattform mit gepulster 1535-nm-Entfernungsmessung und LiDAR
02 / LIDAR

LiDAR & Fernerkundung

Quellenintegration für zivile Kartierungssysteme, die gepulste Übertragung, Zeitmessung, Abtastung und Empfängerarchitektur kombinieren.

Bahn- und Infrastrukturprüfplattform mit optischer Entfernungsmessung
03 / INSPEKTION

Infrastrukturinspektion

Unterstützt optische Messabläufe für Eisenbahn- und feste Infrastruktur Inspektionsausrüstung.

Festes wissenschaftliches Instrument mit gepulster 1535-nm-Quelle für Fernmessung
04 / FORSCHUNG

Wissenschaftliche Instrumente

Eine kompakte 1535-nm-Pulsquellenoption für Labor- und Feld-Forschungsinstrumentierung.

Mechanische & elektrische Integration

Klären Sie die optischen, elektrischen und mechanischen Schnittstellen, bevor Sie das Gehäuse festlegen.

Eine Laserquelle ist nur ein Teil des endgültigen Instruments. Verwenden Sie die modellspezifische Zeichnung und Pinbelegung als Integrationsbasis und validieren Sie das zusammengebaute System einschließlich Optik, Montage, Verkabelung, Versorgungsstabilität und Betriebsumgebung.

OPTISCHER PFAD

Apertur & Ausrichtung

Schützen Sie die Ausgangsapertur, halten Sie die freie Apertur ein und steuern Sie die Ausrichtung mit der optischen Achse des Hosts.

STROMVERSORGUNG

Quellenversorgung

Die veröffentlichte Quellenspezifikation listet <2 V Versorgung auf. Bestätigen Sie Anlauf, Treiberstrom und Erdung im ausgewählten Datenblatt.

MECHANISCH

Montagebezug

Verwenden Sie die Modellzeichnung, um Befestigungspunkte, Sperrzonen und thermische Schnittstellen zu lokalisieren.

VALIDIERUNG

Systemtest

Testen Sie das fertige Host-System, nicht nur die nackte Quelle, auf optische Leistung und Sicherheitskonformität.

Optische Achse des HostsElektrische SchnittstelleMontagebezug

Fertigung, Prüfung & Lieferung

Bauen, prüfen und schützen Sie die vollständige Quellenkonfiguration.

Wiederholbare Versorgung hängt von kontrollierter Montage, modellbezogener Prüfung, Schnittstellenbestätigung und Schutzverpackung ab. Der genaue Abnahmepian und die Dokumentation werden für die angebotene Konfiguration definiert.

Serienmontage von Erbium-Glas-Laserquellen, Schutzverpackung und Versandvorbereitung
Chargenvorbereitung, Schnittstellenkabel, Schutzumwicklung und verpackte Einheiten.
Erbium-Glas-Laserquellenserie und schützende Produktionsablage
Quellenserienmuster und getrennte Produktionsschalen für kontrollierte Handhabung.
01

Wellenlänge

Überprüfen Sie die Ausgabe gegen die ausgewählte 1535-nm-Quellenspezifikation.

02

Pulsenergie

Messen Sie die Ausgangsenergie gegen den relevanten Modell-Abnahmewert.

03

Pulsprofil

Überprüfen Sie Pulsbreite und Wiederholungsverhalten für den ausgewählten Betriebsmodus.

04

Strahlgeometrie

Bestätigen Sie Strahlausrichtung und Divergenz gegen die Produktanforderung.

05

Konfigurationsprüfung

Bestätigen Sie Modellidentität, Schnittstellenkabel, Paketzustand und auftragsspezifische Dokumentation.

06

Geschützter Versand

Trennen Sie die Quelleneinheiten und schützen Sie optische und elektrische Schnittstellen für den Handhabungsweg.

Systemverantwortung: Lumexis bietet quellenbezogene Informationen für das spezifizierte Modell. Das fertige Instrument muss in seiner vollständigen optischen, elektrischen und Betriebskonfiguration bewertet werden.

FAQ vor dem Verkauf

Klären Sie die Design-Eingaben, bevor Sie Muster anfordern.

Diese Antworten bieten einen praktischen Ausgangspunkt für Quellenauswahl und Angebot. Exakte Schnittstellen, Abnahmekriterien und Zeichnungen werden für das ausgewählte Modell bestätigt.

Wie sollte ich zwischen 40 und 500 µJ wählen?

Beginnen Sie mit dem optischen Link-Budget des Systems, der Empfängerempfindlichkeit, der gewünschten Signalmarge, der Übertragung der Host-Optik, der Reichweiten- oder Erfassungsanforderung und den thermischen/elektrischen Grenzen. Höhere Pulsenergie ist nicht automatisch die richtige Antwort; der gelieferte Strahl, die Messkadenz und die endgültige Systembewertung zählen zusammen.

Welche Modelle haben eine Wiederholrate von 1000 Hz?

Die veröffentlichte Spezifikation 1535-LXER040 listet 1000 Hz auf. Die auf dieser Seite gelisteten 100–500 µJ Modelle sind mit 1–10 Hz spezifiziert. Bestätigen Sie den erforderlichen Betriebsmodus und das Tastverhältnis im ausgewählten Produktdatenblatt.

Können Sie mechanische Zeichnungen und Schnittstelleninformationen liefern?

Ja. Fordern Sie die modellspezifische technische Spezifikation, mechanische Zeichnung und verfügbare Schnittstellendokumentation während der Angebots- oder Musterbewertungsphase an. Diese Dokumente sollten als Design-Basis verwendet werden, nicht generische Kategorieseitenwerte.

Was bedeutet Strahldivergenz für die Integration?

Sie beschreibt die Winkelausbreitung des gelieferten Strahls. Sie beeinflusst den Strahlfußabdruck, die nachgelagerte Aperturgröße und die Ausrichtungstoleranz. Host-Optiken können den Strahl weiter formen, daher berechnen Sie den vollständigen optischen Pfad und verifizieren Sie ihn während des Systemtests.

Kann die Quelle angepasst werden?

Wir können OEM-Anforderungen für mechanische Schnittstelle, elektrische Verbindung, optische Konfiguration und Programmdokumentation bewerten. Die Machbarkeit hängt von der angeforderten Leistung, Produktionsmenge, Validierungsumfang und der endgültigen Host-Anwendung ab.

Welche Informationen werden für eine Musterempfehlung benötigt?

Geben Sie die Zielanwendung, die erforderliche Pulsenergie oder Signalmarge, die Wiederholrate, das optische Layout des Hosts, verfügbaren Platz und Masse, Versorgungsbedingungen, den erwarteten Temperaturbereich, die erwartete Stückzahl und das Zielvalidierungsdatum an.

Ist die Laserquelle selbst das endgültig zertifizierte Produkt?

Nein. Die Quelle ist ein OEM-Bauteil. Das endgültige Instrument muss in seiner vollständigen optischen, elektrischen und Betriebskonfiguration gegen die geltenden Produkt- und Lasersicherheitsanforderungen bewertet werden.

Technische Unterstützung

Mit einem Ingenieur sprechen

Senden Sie Ihr Pulsenergieziel, die Wiederholrate, das optische Layout, die mechanische Hülle und die Betriebsbedingungen. Wir helfen Ihnen, das am besten geeignete Modell und die für die Bewertung erforderlichen technischen Dokumente zu identifizieren.